>
Dersin Adı | Dersin Kodu | Dersin Türü | Dersin Düzeyi | Dersin Yılı | Dersin Verildiği Dönem | AKTS Kredisi |
---|---|---|---|---|---|---|
Malzeme Karakterizasyonu | MMT304 | Zorunlu | Lisans | 3 | Bahar | 5 |
Prof. Dr. Ş. HAKAN ATAPEK
Doç. Dr. Şeyda POLAT
Doç. Dr. Mustafa Burak TELLİ
1) Metalografik inceleme için numune alma, hazırlama ve dağlama yöntemlerini tanır.
2) Işık mikroskobunu, ışık fotonları ile kontrast oluşumu ve kontrastlama tekniklerini tanır.
3) Makro ve mikroyapı incelemelerini açıklar.
4) Çelikler, dökme demirler, demir dışı metal ve alaşımlarda mikroyapı incelemelerini açıklar.
5) Kantitatif Metalografi (Görüntü Analizi) yöntemini tanımlar.
6) Elektron mikroskoplarını (SEM, TEM, PEEM) ve elektronlar ile görüntüleme tekniklerini tanır.
7) X-Işını ile analiz yöntemlerini (XRD, XRF, EDX ve WDX) tanır.
8) Termal analiz yöntemlerini (DTA, TGA, DSC, dilatometri) tanır.
Program Yeterlilikleri | ||||||||||||
1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | 11 | ||
Öğrenme Kazanımları | ||||||||||||
1 | Düşük | Düşük | Yüksek | Yüksek | Yüksek | Yüksek | ||||||
2 | Düşük | Düşük | Yüksek | Yüksek | Yüksek | Yüksek | ||||||
3 | Düşük | Düşük | Yüksek | Yüksek | Yüksek | Yüksek | ||||||
4 | Düşük | Düşük | Yüksek | Yüksek | Yüksek | Yüksek | ||||||
5 | Düşük | Düşük | Yüksek | Yüksek | Yüksek | Yüksek | ||||||
6 | Düşük | Düşük | Yüksek | Yüksek | Yüksek | Yüksek | ||||||
7 | Düşük | Düşük | Yüksek | Yüksek | Yüksek | Yüksek | ||||||
8 | Düşük | Düşük | Yüksek | Yüksek | Yüksek | Yüksek |
Yüz Yüze
Yok
Fizik, Malzeme Bilimi I, Malzeme Bilimi II, Fiziksel Metalurji, Teknik Fotoğrafçılık, Mikroyapısal Görüntüleme ve Tanı
Metalografiye Giriş (Numune Alma, Hazırlama ve Dağlama Yöntemleri), Optik Mikroskop (Işık Fotonları ile Kontrast Oluşumu ve Kontrastlama Teknikleri), Makro ve Mikroyapı İncelemeleri Mikroyapı İncelemeleri (Çelikler, Dökme Demirler, Demir Dışı Metal ve Alaşımlar) Kantitatif Metalografi (Görüntü Analizi), Elektron Mikroskobisi (Elektronlar ile Görüntüleme) SEM ve TEM (Kontrast Oluşumu ve Kontrastlama Teknikleri), X-Işınlarına Giriş (Görüntüleme ve Analitik), X-Işını Difraksiyon Analizi (Faz Belirlenmesi, Latis Parametrelerinin Tayini, Kristalit Boyutlarının Tayini, Kantitatif Analiz), X-Işını ile Tahribatsız Muayene, X-Işını ile Analiz (XRF, EDX ve WDX), Termal Analiz Yöntemlerine Giriş, DTA ve TGA, Dilatometre
Ara Sınav Notunun Başarıya Oranı |
30% |
---|---|
Yarıyıl Sonu Sınavının Başarıya Oranı |
70% |
Toplam |
100% |
Türkçe
İstenmemekte